উপাদান পরীক্ষার মূল সরঞ্জাম-সর্বজনীন পরীক্ষার মেশিন-প্রধানত দুটি অংশ নিয়ে গঠিত: প্রধান একক এবং বল পরিমাপ ব্যবস্থা। মূল ইউনিটে একটি বেস, ওয়ার্কটেবল, কলাম, সীসা স্ক্রু, চলন্ত ক্রসবিম এবং উপরের ক্রসবিম অন্তর্ভুক্ত রয়েছে। বল পরিমাপ ব্যবস্থা বল সেন্সর, পরিবর্ধক এবং একটি ডেটা প্রসেসিং সিস্টেমের মাধ্যমে পরিমাপ অর্জন করে। ইলেকট্রনিক সার্বজনীন পরীক্ষার মেশিনগুলি নিয়ন্ত্রণ, পরিমাপ এবং অপারেশনের একটি সমন্বিত কাঠামো গ্রহণ করে। ইলেক্ট্রো-হাইড্রোলিক সার্ভো ইউনিভার্সাল টেস্টিং মেশিনগুলি একটি হাইড্রোলিক সিস্টেমকে শক্তির উৎস হিসেবে ব্যবহার করে, যা ইলেক্ট্রো-হাইড্রোলিক সার্ভো ভালভের মাধ্যমে প্রবাহ ও চাপকে সুনির্দিষ্টভাবে নিয়ন্ত্রণ করে। কোন যান্ত্রিক পরীক্ষার ব্যবস্থা একেবারে অনমনীয় নয়; পরীক্ষার সময় লোড চেইন বিকৃত হবে, নির্ভুলতা উন্নত করতে ডিফ্লেক্টোমিটারের মতো ডিভাইসের প্রয়োজন।
উচ্চ-নির্ভুলতা কম্প্রেশন টেস্টিং সরঞ্জামগুলিতে বিশেষ প্রয়োজনীয়তা রাখে। পরীক্ষার সময় লোড চেইন বিকৃত হবে; ত্রুটি কমাতে, একটি ডিফ্লেকটোমিটার ব্যবহার করা হয়, এবং এর পরীক্ষার ফলাফল ক্রসবিম পরীক্ষার ফলাফল প্রতিস্থাপন করতে ব্যবহৃত হয়। পরীক্ষা চাপ প্লেটের সমান্তরালতা এবং অনমনীয়তার উপর উচ্চ চাহিদা রাখে; চাপ প্লেটের ব্যাস যত বড় হবে, চাপ প্লেটের সমান্তরালতার কারণে স্থানচ্যুতি ত্রুটি তত বেশি তাৎপর্যপূর্ণ। চাপ প্লেট উপাদানের বিকৃতির প্রভাব এড়াতে, একটি উচ্চ-অনমনীয় চাপ প্লেট নির্বাচন করতে হবে যাতে পৃষ্ঠের শক্তকরণ চিকিত্সা থাকে। এদিকে, ডিফ্লেক্টোমিটারের নিখুঁত নির্ভুলতা 1μm এ পৌঁছানো উচিত এবং সরঞ্জামগুলি পরীক্ষা নিয়ন্ত্রণের প্রয়োজনীয়তাগুলি পূরণ করতে স্বয়ংক্রিয়ভাবে লাভ সামঞ্জস্য করতে সক্ষম হওয়া উচিত।